MFA-Bruker – Dimension Icon

MFA-Bruker – Dimension Icon

Le MFA-Bruker Dimension Icon est le plus récent développement dans l’imagerie à l’échelle nanométrique et les technologies de caractérisation de Bruker.

Le Dimension Icon utilise une plateforme de MFA à balayage de pointe d’échantillon grande dimension. Il inclut des capteurs compensant les niveaux de température et de bruit émis dans la gamme de sous-angströms pour l’axe Z et angströms dans X-Y.

Téléchargez la brochure : MFA-Bruker – Dimension Icon (anglais seulement) (version PDF, 1326 KB)

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