AFM Park NX10

AFM Park NX10

Le AFM Park NX10 est un microscope de précision à force atomique pour nanotechnologies.

Les techniques de caractérisation matérielles de l’équipement incluent :

  • AFM non-contact
  • AFM contact
  • Microscopie à force latérale (LFM)
  • Imagerie de phase
  • Piquage à fonctionnement intermittent
  • AFM conducteur
  • I-V spectroscopie
  • Microscopie à balayage sonde Kelvin (SKPM)
  • Microscopie à force électrostatique (EFM) qui inclut contenu dynamique (DC-EFM) et microscopie à force piezoresponse (PFM) 


Télécharger la brochure : AFM Park NX10 (anglais seulement) (version PDF, 1242 KB)

 

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